在數字信息飛速發(fā)展的今天，固態(tài)硬盤(pán)作為電腦的核心部件、數據存儲的核心設備，其可靠性已成為衡量產(chǎn)品質(zhì)量的重要標準。一款質(zhì)量過(guò)硬的硬盤(pán)，能夠經(jīng)受各種復雜環(huán)境的考驗：無(wú)論是在平原廣袤之地，還是在高原的崎嶇之巔，抑或是在環(huán)境最為極端的太空空間站，都能保證正常的運行、穩定的性能表現。

然而，在一般情況下我們的產(chǎn)品卻很難有機會(huì )觸及到以上的每一種場(chǎng)景。近日，憶聯(lián)針對消費級SSD AM541開(kāi)展大氣中子試驗，該測試通過(guò)加載極端大氣中子輻射環(huán)境，以測試AM541的可靠性。

為什么用中子試驗驗證固態(tài)硬盤(pán)可靠性？

中子，在自然界中無(wú)處不在，尤其在高原地區，中子通量隨著(zhù)海拔的升高而急劇增加。中子對固態(tài)硬盤(pán)具有潛在威脅，它能與半導體微電子相互作用會(huì )引發(fā)單粒子效應（SEE），導致器件功能異常、數據丟失甚至損毀。尤其是在高海拔等中子密度高的地區，這種威脅更為嚴峻，一旦引發(fā)故障，不僅會(huì )影響我們正常的工作和生活，也極有可能造成不可估量的經(jīng)濟損失。

為應對這一挑戰，憶聯(lián)以AM541為樣本，在中國散裂中子源大氣中子輻照譜儀開(kāi)展了系列測試，通過(guò)監測其在極端中子輻射環(huán)境下的正常工作時(shí)間，以驗證其在極端場(chǎng)景中的高可靠性，真正讓用戶(hù)使用無(wú)憂(yōu)。

中子試驗：百萬(wàn)倍大氣中子注量率，AM541通過(guò)嚴苛“考驗”

試驗選取憶聯(lián)AM541及國內友商的同類(lèi)產(chǎn)品A，以相同樣本量、相同的試驗環(huán)境進(jìn)行測試：所有盤(pán)片均以2.67×105n/cm2·s的中子注量率進(jìn)行輻照，直至盤(pán)片失效或測試時(shí)長(cháng)超過(guò)20分鐘，試驗過(guò)程中通過(guò)自動(dòng)化試驗腳本記錄硬盤(pán)正常運行時(shí)間。

中子輻照現場(chǎng)圖

據中子試驗相關(guān)專(zhuān)家介紹，此次試驗采用的中子注量率遠超自然環(huán)境的中子強度，即使相對于海拔較高的阿里、西藏等高原地區，本次試驗的中子密度也超過(guò)百萬(wàn)倍，通過(guò)監測硬盤(pán)在試驗環(huán)境下的工作時(shí)間，可推算出樣品在各種復雜環(huán)境中的平均故障時(shí)間及可靠性。

經(jīng)過(guò)多組試驗顯示，在2.67×105n/cm2·s中子注量率輻照下, AM541的平均運行時(shí)間可達12.5分鐘，遠遠高于友商產(chǎn)品A的9.2分鐘，這表明在相同環(huán)境下，AM541具有更高的可靠性。

高海拔地區三年失效率僅0.0033%，AM541高可靠保障用戶(hù)使用無(wú)憂(yōu)

西藏拉薩，作為絕大多數人心馳神往的旅游勝地，其平均海拔高達3600多米，這幾乎已經(jīng)是自然條件下固態(tài)硬盤(pán)所面臨的最為極端的考驗。

以拉薩3650米海拔作為參考，AM541在3600+米高海拔地區的首年失效概率僅為0.0003%（可靠度99.9997%），產(chǎn)品質(zhì)保期3年失效概率僅為0.0033%（可靠度99.9967%）。相比之下憶聯(lián)AM541的可靠性指標遠遠高于友商，可為用戶(hù)營(yíng)造滿(mǎn)滿(mǎn)的“安全感“。

1stAFT:首年失效率；PPM：百萬(wàn)分之一

作為憶聯(lián)具有代表性的自研消費級產(chǎn)品，憶聯(lián)對 AM541進(jìn)行面向極端可靠性的深度設計和優(yōu)化，實(shí)現了其在諸多實(shí)際應用場(chǎng)景、極端環(huán)境下的高可靠性及穩定性，為數據存儲“保駕護航”。

當下，隨著(zhù)AI PC快速普及、大模型應用加速落地終端，個(gè)人數據價(jià)值不斷提升的同時(shí)，也對數據安全也提出了更高要求。憶聯(lián)深耕閃存領(lǐng)域二十余年，并持續致力于存儲技術(shù)創(chuàng )新和產(chǎn)品升級，可以提供更高可靠性的產(chǎn)品及解決方案。未來(lái)，憶聯(lián)將精準洞察行業(yè)趨勢，推出更多高性能、高可靠的存儲解決方案，為人工智能在客戶(hù)端的落地應用提供強大的存力支撐。