1.       試驗(yàn)環(huán)境基本信息

本次試驗(yàn)配置如下：

1.1  服務(wù)器配置：

?   CPU：Intel 5218 *2

?   內(nèi)存： 8*32G

?   網(wǎng)卡： 2*10GE+2*GE

1.2  試驗(yàn)SSD數(shù)量

本次試驗(yàn)產(chǎn)品主要為憶聯(lián)自研的企業(yè)級(jí)UH8系產(chǎn)品，試驗(yàn)SSD數(shù)量共為12塊。涵蓋了UH810a、UH830a、UH811a、UH831a等企業(yè)級(jí)固態(tài)硬盤。

1.3  中子注量率

本次試驗(yàn)中子注量率為2.67*10⁵n/( cm²·s)。

在國(guó)內(nèi)地面條件下，阿里地區(qū)作為中子量最多的地區(qū)之一，中子注量率約為509n/ (cm²·h) (En≥1MeV) 。在不間斷接受中子輻照的條件下，SSD在本次試驗(yàn)條件下接受到的累計(jì)中子注量遠(yuǎn)超國(guó)內(nèi)地面可接收的最大累計(jì)中子注量（對(duì)比示例如圖2）。

   圖2：累計(jì)中子注量對(duì)比圖

2.       試驗(yàn)過(guò)程及結(jié)果

圖3：試驗(yàn)環(huán)境整體示意圖   

  圖4：試驗(yàn)現(xiàn)場(chǎng)監(jiān)測(cè)圖

2.1  試驗(yàn)過(guò)程

?   所有盤片均在同一中子注量率下進(jìn)行輻照，以中子輻照注量率達(dá)到試驗(yàn)要求為開(kāi)始，以盤片功能失效為結(jié)束，通過(guò)自動(dòng)化試驗(yàn)?zāi)_本記錄運(yùn)行時(shí)間；

?   5塊SSD為一組，本次試驗(yàn)一共完成3組；

?   試驗(yàn)人員在監(jiān)測(cè)室實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)SSD運(yùn)行狀況，并進(jìn)行統(tǒng)計(jì)。

2.2  試驗(yàn)結(jié)果

（1）部分單盤實(shí)測(cè)結(jié)果

             圖7：UH810a/UH830a單盤實(shí)測(cè)情況-2                                                              圖8：UH811a/UH831a單盤實(shí)測(cè)情況-2

(2)  詳細(xì)運(yùn)行時(shí)間統(tǒng)計(jì)

序號(hào)	SSD型號(hào)	運(yùn)行時(shí)間/min	平均運(yùn)行時(shí)間/min	總平均時(shí)間/min
1	UH810a/UH830a	28	6.5	11.7
2		10
3		3
4		2
5	UH811a/ UH831a	99	12.3
6		16
7		14
8		3
9		5
10		0
11		4
12		32
注1：平均時(shí)間=有效SSD運(yùn)行時(shí)間之和/有效試驗(yàn)盤片數(shù)（排除最高及最低運(yùn)行時(shí)間） 注2：統(tǒng)計(jì)中的“運(yùn)行時(shí)間”為在中子輻照下SSD可正常讀寫的持續(xù)時(shí)間。

從試驗(yàn)結(jié)果可知，UH8系產(chǎn)品在同一中子注量照射下，最低平均運(yùn)行時(shí)間為6.5分鐘，總平均運(yùn)行時(shí)間為11.7分鐘。

3.       試驗(yàn)數(shù)據(jù)分析

憶聯(lián)SSD一般壽命為5年，以阿里地區(qū)中子注量率為基準(zhǔn)的條件下，憶聯(lián)SSD在5年內(nèi)累計(jì)中子注量為2.23E+07 n/ cm²。在實(shí)驗(yàn)室條件下，憶聯(lián)SSD為達(dá)到5年壽命，需在2.67*10⁵ n/( cm²·s) 中子注量率下，運(yùn)行時(shí)間達(dá)到83s。

在本次實(shí)驗(yàn)中，憶聯(lián)UH8系SSD平均運(yùn)行時(shí)間為11.7分鐘，驗(yàn)證憶聯(lián)UH8系SSD在較高的中子通量自然環(huán)境條件下，在5年壽命條件下可正常運(yùn)行，具備抵抗一定中子輻照的高可靠性。